Chipdan foydalanish va sinov paytida quyidagi fikrlarni qayd etish kerak:
Saqlash va namlikni saqlash bo'yicha davolanish: Uzoq muddatli saqlash darajasi past bo'lgan chiplar uchun namlik ta'sir qilishi mumkin.
Anti-statik choralar: chiplarni qabul qilishda, chip . chipga zarar etkazishi mumkin, shuning uchun operator statik elektr energiyasini zarb qilishga olib kelishi kerak .} {}} {}}}
Payvandlash qobiliyati: SMD chiplarni lehim paytida quyidagi fikrlarni ta'kidlash kerak:
Harorat sozlanadigan lehim temiridan foydalaning, lehimlash haroratini turli xil chiplarning ehtiyojlariga muvofiq sozlash uchun foydalaning .}}
Loterlik bilan bir tekis oqishini va yaxshi loval . ni shakllantirishiga ishonch hosil qilish uchun tegishli miqdordagi oqimni ishlating
Lehim vaqtini nazorat qiling, odatda 2-3 soniyadan ko'p bo'lmagan miqdordan ko'p emas, kesish va shikastlanishni oldini olish uchun .
Sinov choralari: Chip sinov jarayoni paytida quyidagi fikrlarni ta'kidlash kerak:
Tekshiruv natijalarining aniqligini ta'minlash uchun avtomatlashtirilgan test uchun OTE tizimidan foydalaning .
Sinovning maqsadi va test ob'ekti bo'yicha chip sinovini funktsional sinov, parametr sinovi, barqarorlikni tekshirish va samaradorlikni tekshirish va test sinoviga o'tish mumkin . .
Chip sinov rozetkasini ishlatishda, xavfsizlik qoidalariga rioya qilish, ishlangan haroratni boshqarish va doimiy rozetkani doimiy ravishda saqlang va tekshiring .
